1
April
Mittwoch,
09:00 - 12:00

ACstyria TECHNOLOGIEFRÜHSTÜCK || Tiefenblick statt Oberfläche mit X-Ray & Elektronenmikroskopie

Linz
Wir laden Sie herzlich zum Technologiefrühstück ins ZEISS Quality Excellence Center Linz ein. Dort erhalten Sie einen praxisnahen Einblick in die Möglichkeiten moderner Prüf- und Analysetechnologien – von industrieller Computertomographie über Röntgenmikroskopie bis hin zur Elektronenmikroskopie.

Im Fokus stehen industrielle Anwendungen der zerstörungsfreien Analyse von Werkstoffen und Bauteilen. Fachvorträge von FELMI ZFE und ZEISS sowie eine Live-Demonstration der ZEISS METROTOM 3D-Röntgenlösung geben Einblicke in aktuelle Technologien. Ergänzend werden weitere Mess- und Scanlösungen wie Hand-Laserscanner, 3D-Scanner und Koordinatenmessgeräte vorgestellt.

 

Nutzen Sie die Gelegenheit zum fachlichen Austausch mit Expert:innen aus Industrie und Forschung – bei Kaffee und Frühstück!

 

PROGRAMM

09:00 – 09:15 | Veranstaltungsbeginn

09:15 – 09:45 | Vortrag: Elektronenmikroskopie & Nanoanalyse
(FELMI ZFE – Zentrum für Elektronenmikroskopie & Nanoforschung)

10:30 – 11:00 | Vortrag: Industrielle Computertomographie & Röntgenmikroskopie (ZEISS)

11:00 – 11:30 | Live-Demonstration ZEISS METROTOM 3D-Röntgenlösung

11:30 – 12:00 | Networking

 

Wir freuen uns auf Ihre Anmeldung.

Wann?
Mittwoch, 1. April 2026  
09:00 - 12:00
Wo?
ZEISS Quality Excellence Center Linz
Stahlstraße 2-4, 4020 Linz
Kontakt
ACstyria Mobilitätscluster GmbH

Parkring 1
8074 Raaba-Grambach
Austria

T: +43 316 40 96 96-0

Im Fokus stehen industrielle Anwendungen der zerstörungsfreien Analyse von Werkstoffen und Bauteilen. Fachvorträge von FELMI ZFE und ZEISS sowie eine Live-Demonstration der ZEISS METROTOM 3D-Röntgenlösung geben Einblicke in aktuelle Technologien. Ergänzend werden weitere Mess- und Scanlösungen wie Hand-Laserscanner, 3D-Scanner und Koordinatenmessgeräte vorgestellt.

 

Nutzen Sie die Gelegenheit zum fachlichen Austausch mit Expert:innen aus Industrie und Forschung – bei Kaffee und Frühstück!

 

PROGRAMM

09:00 – 09:15 | Veranstaltungsbeginn

09:15 – 09:45 | Vortrag: Elektronenmikroskopie & Nanoanalyse
(FELMI ZFE – Zentrum für Elektronenmikroskopie & Nanoforschung)

10:30 – 11:00 | Vortrag: Industrielle Computertomographie & Röntgenmikroskopie (ZEISS)

11:00 – 11:30 | Live-Demonstration ZEISS METROTOM 3D-Röntgenlösung

11:30 – 12:00 | Networking

 

Wir freuen uns auf Ihre Anmeldung.