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No challenge too small: Nanoanalysis for future electronic systems

Am 23. Januar 2018 öffnet das FELMI-ZFE seine Tore und gibt Ihnen einen einzigarten Einblick in die facettenreiche Welt der Nanoanalytik. In 3 Vorträgen erfahren Sie mehr über die Vorteile und die erfolgreiche Anwendung von Methoden der hochauflösenden analytischen Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und ihre Relevanz für mikro- und nanostrukturierte elektronische Bauteile, wie etwa Halbleiterbauelemente oder keramische Devices.
Neben einer Führung durch das FELMI-ZFE freuen wir uns, Sie zum anschließenden Netzwerken mit Buffet einzuladen.

Programm

Ferdinand Hofer: „Das FELMI-ZFE“
Rainer Minixhofer (ams AG) und Werner Grogger: „Elektronenmikroskopische Untersuchung von Grenzflächen in Halbleiterbauelementen“
Georg Haberfehlner: „Elektronentomographie – 3D Materialanalyse mit atomarer Auflösung“


 
ORGANISATORISCHE DATEN
Termin/Beginn: Dienstag, 23.01.2018 15:00 Uhr
Termin/Ende: Dienstag, 23.01.2018 17:00 Uhr
Veranstalter: Silicon Alps
Ort: Petersgasse 14
Graz
HS BK EG 053
Standort finden und Route planen mit Google Maps
  Wir freuen uns, wenn Sie zur Veranstaltung mit öffentlichen Verkehrsmitteln anreisen.

Anmeldung & Kontakt

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